MERLIC 5.2 从逻辑上延续了自 MERLIC 5 以来所采用的方法。它的目的是解决高要求的机器视觉应用，同时满足快速和容易实施。这个新版本为客户提供了我们最新的深度学习功能，不需要任何编程知识。

全局上下文异常值检测

MERLIC 5.2促进了新开发的深度学习方法 "全局上下文异常值检测"。这种最先进的技术通过 “理解” 图像的逻辑内容来检测异常中的新变体。对于需要进行完整性检查、质量检查、缺陷检测或印刷检查的任何工业领域，这种功能都是很有用处的。借助全局上下文异常值检测，良好的图像是唯一需要训练的对象。也就是说，不需要进行任何标记。

在 MERLIC 5.2 中，可以使用 MVTec 提供的免费深度学习工具 (DLT) 对深度学习应用进行训练。可以将结果从 DLT 导入至 MERLIC，并在其中运行结果，而无需进行任何编程。

简便的参数设置

MERLIC 5.2 中提供的 MVTec EasyParams 使用户能够快速轻松地查找和设置相关相机参数。无论相机制造商是哪家公司，这款简化的配置工具都意味着，可以更快地将应用投入运行。此外，MERLIC 还可自动保存所有 EasyParams，这可增加 MERLIC 支持的兼容相机的数量。

扩展工具的功能范围

通过新的 "扩展工具插件"，可在 MERLIC 5.2 中实现更高级的机器视觉应用。这将使更多的用户能够在 MVTec HALCON 的基础上实现他们的自定义工具。

开发环境 HDevelop 直接连接到 MERLIC 。为您提供在 HDevelop 中跟踪自定义工具的执行情况所需的一切，使调试变得更加容易。

从 MERLIC 导出图像数据到其他接口

通过这个的功能，用户可以直接通过通信接口将图像用于可视化目的。更有现在也已包括在交付范围内的通信插件，允许用户单独保存图像，例如，用于质量保证目的。

概念工具: 预先体验 "SEGMENT IMAGE PIXEL-PRECISE" 的功能

MERLIC的 "概念工具" 为客户提供了对未来功能的初步体验。同时，他们可以利用这些工具对新应用进行初步评估。此外，客户的反馈也为开发做出了积极贡献。

在 MERLIC 5.2 中，基于深度学习的功能 "Segment Image Pixel-Precise" 可以作为概念工具-AI的一部分被测试。实现以像素精度定位训练过的缺陷类别成为可能。通过这种方式，用户可以解决检测任务，例如，以前根本不可能或只能通过大量的编程工作。

MERLIC 5.2 网络研讨会

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时间：2022年10月26日15:00